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Zeta-potential & Particle size Analyzer

Otsuka Electronics Co.,Ltd. / Otsuka Electronics

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Overview

従来からの希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位・粒子径測定に加え、分子量測定も可能な装置です。
粒子径測定範囲(0.6nm~10μm)、濃度範囲(0.00001%~40%)に対応。電気浸透流を実測し、高精度なゼータ電位測定を可能とした最小容量130μL~のディスポーザブルセルで測定が可能です。
また新たに0~90℃の幅広い温度範囲で、自動温度グラジエント測定をおこない変性・相転移温度解析が可能です。

Explanation

<特長>
○最新型高感度APDにより感度アップと測定時間短縮を実現(NEW)
○自動温度グラジエント測定により変性・相転移温度解析が可能(NEW)
○0~90℃の広い温度範囲で測定が可能(NEW)
○広範囲な分子量測定および解析機能を追加(NEW)
○懸濁した高濃度サンプルの粒子径・ゼータ電位測定に対応
○セル内の電気浸透流を実測、プロット解析により高精度なゼータ電位測定結果を提供
○高塩濃度溶液のゼータ電位測定に対応
○小面積サンプルの平板ゼータ電位測定に対応(NEW)
<用途>
界面化学、無機物、半導体、高分子、生物、薬学、医学分野などにおいて、微粒子のみならず、フィルムや平板状試料の表面科学を取り扱う基礎研究、応用研究に最適です。
○新規機能性材料分野
燃料電池関連(カーボンナノチューブ、フラーレン、機能性膜、触媒、ナノ金属)
バイオナノ関連(ナノカプセル、デンドリマー、DDS、バイオナノ粒子)、ナノバブルなど
○セラミックス・色材工業分野
セラミックス(シリカ・アルミナ・酸化チタンなど)
無機ゾルの表面改質・分散・凝集制御
顔料(カーボンブラック・有機顔料)の分散・凝集制御
スラリー状サンプル
カラーフィルター
浮遊選鉱物の捕集材吸着の研究
○半導体分野
シリコンウェハー表面への異物付着のメカニズム解明
研磨剤や添加剤とウェハー表面との相互作用の研究
CMPスラリー
○高分子・化学工業分野
エマルション(塗料・接着剤)の分散・凝集制御、ラテックスの表面改質(医薬用・工業用)
高分子電解質(ポリスチレンスルフォネート・ポリカルボン酸など)の機能性の研究、機能性ナノ粒子
紙・パルプの製紙工程制御およびパルプ添加材の研究
○医薬品・食品工業分野  
エマルション(食品・香料・医療・化粧品)の分散・凝集制御、タンパク質の機能性
リポソーム・ベシクルの分散・凝集制御、界面活性剤(ミセル)の機能性
Update:2015-11-13

Spec sheet

Cat.No. ELSZ-2000ZS
Unit Size
Size 380(W)×600(D)×210(H)
測定原理 ゼータ電位:電気泳動光散乱法(レーザードップラー法)分子量:静的光散乱法
粒子径:動的光散乱法(光子相関法)
光学系 粒子径:ホモダイン光学系
ゼータ電位:ヘテロダイン光学系
分子量:ホモダイン光学系
光源 高出力半導体レーザー
検出器 高感度APD
セル ゼータ電位用:標準セル、微量ディスポセルもしくは濃厚系セル
粒子径/分子量用:角セル
温度 0~90℃(グラジエント機能あり)
電源 100V±10%250VA
Weight 約22kg
Price(JPY) 12,000,000

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